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美國(guó)Megger （AVO）絕緣電阻測(cè)試儀S1-554/2
簡(jiǎn)要描述：測(cè)試電壓：50V~5000V測(cè)試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增，1KV-5KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增測(cè)試電阻（阻抗）顯示Z大讀數(shù)15TΩ，顯示Z小讀數(shù)10KΩ 短路電流：5mA實(shí)時(shí)輸出：能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗
產(chǎn)品型號(hào)：S1-554/2- 品牌：MEGGER/美國(guó)
- 更新時(shí)間：2024-09-03
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S1-554/2美國(guó)Megger （AVO）絕緣電阻測(cè)試儀S1-554/2的詳細(xì)資料：
簡(jiǎn)單介紹
測(cè)試電壓：50V~5000V
測(cè)試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增，1KV-5KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
測(cè)試電阻（阻抗）顯示zui大讀數(shù)15TΩ，顯示zui小讀數(shù)10KΩ
短路電流：5mA
實(shí)時(shí)輸出：能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗
| 美國(guó)Megger （AVO）絕緣電阻測(cè)試儀S1-554/2的詳細(xì)介紹 |
| 美國(guó)Megger （AVO） S1-554/2 5KV絕緣電阻測(cè)試儀（高壓兆歐表） （替代S1-5001、S1-5005） 產(chǎn)品特點(diǎn)： ▲全新的S1-554/2絕緣電阻測(cè)試儀是MEGGER特別設(shè)計(jì), 用來測(cè)試和維護(hù)高壓設(shè)備的*儀器。 ▲雙路電源輸入設(shè)計(jì)：可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電，也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)所不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候，都可以來進(jìn)行測(cè)試。 ▲數(shù)字/模擬雙顯示測(cè)試結(jié)果 ▲測(cè)試電壓由 50V至5KV可調(diào) 測(cè)試電壓在 50V-1000V 的范圍里以10V（步進(jìn)）微調(diào)，1KV-5V的范圍里以25V（步進(jìn)）微調(diào)。 ▲絕緣電阻測(cè)量測(cè)試范圍15TΩ,用于對(duì)高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢(shì)分析等。
▲絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置五種可設(shè)置工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)絕緣測(cè)試程序，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)試，提供全部分析結(jié)果： ▲全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯示屏使操作者在陽光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。 ▲絕緣電阻測(cè)試儀顯示的信息：絕緣阻值，實(shí)時(shí)測(cè)試電壓，泄漏電流，等效電容，電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí)，每次測(cè)試時(shí)LCD上還會(huì)顯示已測(cè)試時(shí)間，這就不需要在測(cè)試時(shí)額外計(jì)時(shí)。 ▲絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器，還具備絕緣測(cè)試設(shè)限告警功能。 ▲儀器上還帶有一個(gè)接地端子，使儀器能提高其精確性。 ▲儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊，方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。 ▲儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書里面。 產(chǎn)品功能： 內(nèi)置多種自動(dòng)測(cè)試程序： ▲IR 絕緣電阻測(cè)試、 ▲DAR 吸收比測(cè)試 （介電吸收率）、 ▲PI 極化指數(shù)測(cè)試、 ▲SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測(cè)試 ▲DD 測(cè)試 （介質(zhì)放電）） ▲絕緣電阻zui大測(cè)試范圍15TΩ, ▲提供USB與RS232接口下載數(shù)據(jù) ▲儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器可保存測(cè)試結(jié)果:電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD 產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)： 電源 95-240V，50/60 Hz 60VA 電池使用時(shí)間 在5KV 狀態(tài)下，可進(jìn)行6小時(shí)連續(xù)測(cè)試 測(cè)試電壓（DC） 50~1KV到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓 1 kV 到 5 kV 以25V為步進(jìn)電壓 精度 ± 5% 1TΩ （23°C） ± 20% 10TΩ 短路電流/ 5mA 充電時(shí)間 在 5mA / 5kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤1.5 s /μF 電容放電時(shí)間 放電從 5000 V 到 50 V時(shí)間為≤ 120ms/μF 電容測(cè)量 10nF 到 50µF（取決于測(cè)量電壓） 電容測(cè)量精度 ± 5% ± 5nF （23°C） 電壓輸出精度 基本測(cè)試電壓的 +4% @ 1GΩ （0°C-30°C） ±25V非標(biāo)測(cè)試電壓（<500V） 測(cè)試電流范圍 0.01mA to 5mA 測(cè)量電流精度 ±5% ±0.2 mA （23°C） 抗干擾 4mA rms @ 200 V 顯示 3位數(shù)字/模擬顯示 計(jì)時(shí)器量程 99分鐘59秒 導(dǎo)線 3條（ 內(nèi)存容量 32KB 其它測(cè)試性能 IR，PI，DAR，DD，SV 實(shí)時(shí)輸出 能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗 傳輸接口 RS232 和 USB 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD 工作溫度 儲(chǔ)存溫度 濕度 90% RH非凝固@ 保護(hù)等級(jí) IP65 安全標(biāo)準(zhǔn) 符合EN61010- 1：2001 CATIII 300V EMC 符合EN61326-1：1998 外形尺寸 重量 7．1公斤 產(chǎn)品持有證書 CE 絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試指標(biāo)名詞解釋 （PI） 極化指數(shù)測(cè)試 極化指數(shù)：在同一次試驗(yàn)中，10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。 （DAR） 感應(yīng)吸收比（誘電吸收比）測(cè)試 吸收比：在同一次試驗(yàn)中，60s時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。 （SV） 步進(jìn)電壓測(cè)試 （DD） 介質(zhì)放電（誘電體放電）
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鄭由軍
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